Wang shengcheng (13 risultati)
Long-term Reliability of Nanometer Vlsi Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 190,93
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
Long-term Reliability of Nanometer Vlsi Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 190,93
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
Long-term Reliability of Nanometer Vlsi Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu
- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 193,45
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Long-term Reliability of Nanometer Vlsi Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 193,45
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 239,28
EUR 3,57 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. XLI, 460 211 illus., 195 illus. in color. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 239,68
EUR 3,57 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New.
Long-term Reliability of Nanometer Vlsi Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon/ Tahoori, Mehdi/ Kim, Taeyoung/ Wang, Shengcheng/ Sun, Zeyu
- Rilegato
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 247,31
EUR 14,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. 504 pages. 9.25x6.10x1.26 inches. In Stock.
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Sheldon Tan|Mehdi Tahoori|Taeyoung Kim|Shengcheng Wang|Zeyu Sun|Saman Kiamehr
- Rilegato
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 136,16
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires are stressed under time-varying .…
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Sheldon Tan|Mehdi Tahoori|Taeyoung Kim|Shengcheng Wang|Zeyu Sun|Saman Kiamehr
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 136,16
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires are stressed under time-varying .…
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 250,32
EUR 7,79 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. XLI, 460 211 illus., 195 illus. in color.
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 252,86
EUR 7,79 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand.
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 252,28
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. XLI, 460 211 illus., 195 illus. in color.
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 251,67
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND.
