Wang shengcheng (13 risultati)

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 165,67
EUR 13,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 165,67
EUR 13,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 212,12
EUR 3,47 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. XLI, 460 211 illus., 195 illus. in color. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 212,74
EUR 3,47 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New.

Long-term Reliability of Nanometer Vlsi Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon/ Tahoori, Mehdi/ Kim, Taeyoung/ Wang, Shengcheng/ Sun, Zeyu
- Rilegato
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 240,15
EUR 14,59 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. 504 pages. 9.25x6.10x1.26 inches. In Stock.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
- Print on Demand
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 137,88
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Condizione: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days. Excellent Customer Service.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 137,88
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Condizione: Brand New. New. US edition. Print on demand title. Delivery takes 20-25 days. Excellent Customer Service.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Sheldon Tan|Mehdi Tahoori|Taeyoung Kim|Shengcheng Wang|Zeyu Sun|Saman Kiamehr
- Rilegato
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 136,16
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires ar…e stressed under time-varying .

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Sheldon Tan|Mehdi Tahoori|Taeyoung Kim|Shengcheng Wang|Zeyu Sun|Saman Kiamehr
- Brossura
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 136,16
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires ar…e stressed under time-varying .

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 221,49
EUR 7,58 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
- Print on Demand
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 221,70
EUR 7,58 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. Print on Demand pp. XLI, 460 211 illus., 195 illus. in color.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems : Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Rilegato
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 224,08
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND.

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon; Tahoori, Mehdi; Kim, Taeyoung; Wang, Shengcheng; Sun, Zeyu; Kiamehr, Saman
- Brossura
- Print on Demand
Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 224,44
EUR 9,95 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. PRINT ON DEMAND pp. XLI, 460 211 illus., 195 illus. in color.