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MEASUREMENT OF DIFFUSION LENGTHS IN P-TYPE GALLIUM ARSENIDE BY ELECTRON BEAM EXCITATION
Editore: J Applied Physics, 1969
Da: Larry W Price Books, Portland, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Rivista / Giornale
Pamphlet. Condizione: Very Good. Vol 40, No 9, pp. 3745-3750, Extracted from orig vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, VG.
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ELECTRON BEAM MODULATED OPTICAL PROPERTIES OF SEMICONDUCTORS (Pamphlet)
Editore: J Applied Physics, 1971
Da: Larry W Price Books, Portland, OR, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Rivista / Giornale
Pamphlet. Condizione: Very Good. Vol 42, No 3, pp. 1174-1181, Illus,Extracted from orig Vol, begins with title page, trimmed & stapled, thus is like a pamphlet, VG.
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SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY: Fundamentals and Applications. Report on the Second Japan - United States Joint Seminar on SIMS
Editore: Riaru-Kogeisha, Ltd, Tokyo, 1979
Da: J. Wyatt Books, Ottawa, ON, Canada
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 153,08
Spedizione EUR 19,82
Spedito da Canada a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloSoft cover. Condizione: Very Good. 326 pages in very good condition. Pages are clean and unmarked. Page edges are lightly smudged. Bound in blue wraps with black titles. Smudged and darkened around the edges. Wrinkled and darkened on the spine, torn on the tail. SCARCE. VG Size: 8 1/2 x 11. Book.
