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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 54,30
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 83,27
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 324 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | With the end of Dennard scaling and Moore¿s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm that seeks to combine fault detection, fault diagnosis, and error recovery in large-scale VLSI design in a unified manner so as to minimize resource overhead and performance penalties. Following this computing paradigm, we propose a holistic solution based on three key components: self-test, self-diagnosis and self-repair, or ¿3S¿ for short. We then explore the use of 3S for general IC designs, general-purpose processors, network-on-chip (NoC) and deep learning accelerators, and present prototypes to demonstrate how 3S responds to in-field silicon degradation and recovery under various runtime faults caused by aging, process variations, or radical particles. Moreover, we demonstrate that 3S not onlyoffers a powerful backbone for various on-chip fault-tolerant designs and implementations, but also has farther-reaching implications such as maintaining graceful performance degradation, mitigating the impact of verification blind spots, and improving chip yield. This book is the outcome of extensive fault-tolerant computing research pursued at the State Key Lab of Processors, Institute of Computing Technology, Chinese Academy of Sciences over the past decade. The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs. Hopefully, it will provide an alternative yet effective solution to the growing reliability challenges for large-scale VLSI designs.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,39
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 200,38
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 218,26
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 223,08
Spedizione EUR 2,26
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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design : A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 223,71
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 2023rd edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 301,75
Spedizione EUR 14,43
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 322 pages. 9.25x6.10x0.75 inches. In Stock.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,63
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Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 54,03
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Aggiungi al carrelloPAP. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2024
ISBN 10: 9811985537 ISBN 13: 9789811985539
EUR 180,07
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. With the end of Dennard scaling and Moore s law, IC chips, especially large-scale ones, now face more reliability challenges, and reliability has become one of the mainstay merits of VLSI designs. In this context, this book presents a built-in on-chip fault.
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Built-in Fault-tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-scale Chip Design
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2023
ISBN 10: 9811985502 ISBN 13: 9789811985508
EUR 180,07
Spedizione EUR 48,99
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 266,61
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 270,18
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 288,04
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
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Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 291,18
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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