Yu jun xiong (13 risultati)
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Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.Goodwill of Silicon Valley
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Da: Buchpark, Trebbin, , GermaniaBuchpark
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Condizione: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analys…is and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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EUR 211,27
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Condizione: New.
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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EUR 211,83
EUR 3,48 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Da: Revaluation Books, Exeter, , Regno UnitoRevaluation Books
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Hardcover. Condizione: Brand New. 188 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock.
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Da: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, GermaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Molto buono
EUR 229,90
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Hardcover. Condizione: gut. 2022. Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System In deutscher Sprache. pages.
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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EUR 28,80 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
paperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer 2023
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Da: moluna, Greven, , Germaniamoluna
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EUR 136,16
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal managem…ent. Theoretical analysis and experimenta.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer 2022
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Da: moluna, Greven, , Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and therm…al management. Theoretical analysis and experimenta.
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Da: Majestic Books, Hounslow, , Regno UnitoMajestic Books
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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