Springer us copernicus nov 2005 (2 risultati)

Casa editrice

Perfeziona la tua ricerca

  • Libri (2)

  • Nuovo (2)

  • Con foto (2)

a

Fascia di prezzo personalizzata (EUR)

a

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, Copernicus Nov 2005, 2005

      1402032072 / 9781402032073

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 7 di 40. Libro 7 di 40 - Frontiers in Electronic Testing

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 160,49

      EUR 60,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. It gives an introduction to testing, describes the problems related to SOC testing, discusses the modeling granularity

    • Lingua: Inglese

      Editore: Springer US, Copernicus Nov 2005, 2005

      0387262326 / 9780387262321

      • Rilegato
      • Print on Demand

      Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germaniabuchversandmimpf2000

      Venditore con 5 stelle
      Contatta il venditore

      Condizione: Nuovo

      EUR 181,89

      EUR 60,00 spedizione 
      Spedito da Germania a U.S.A.

      Quantità: 1 disponibili

      Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Currently employed at STMicroelectronics, Transactional-Level Modeling (TLM) puts forward a novel SoC design methodology beyond RTL with measured improvements of productivity and first time silicon success.The SystemC consortium has published