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9780306442490 - Advances in X-Ray Analysis (35): Volume 35B di Barrett, Charles S.; Gilfrich, John V.; Huang, Ting C. (10 risultati)
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Advances In X - Ray Analysis
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
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ADVANCES IN X - RAY ANALYSIS
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Advances in X-Ray Analysis
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 1334 1st Edition.
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Advances in X-Ray Analysis
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 72,20
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Advances in X-Ray Analysis
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 72,34
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,06
Spedizione EUR 13,91
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 35
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 131,51
Spedizione EUR 29,02
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.
