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9780367400637 - High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography di Bowen, D.K.; Tanner, Brian K. (15 risultati)
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 90,50
Spedizione EUR 7,54
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 264.
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 88,42
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 94,32
Spedizione EUR 17,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,97
Spedizione EUR 13,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,73
Spedizione EUR 11,60
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 264 pages. 9.69x6.85x0.70 inches. In Stock.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 126,63
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 107,37
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 96,76
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bowen, D.K. Tanner, Brian K.The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ra.
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EUR 132,12
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization.
