ISBN: 9780367492823 - advanced vlsi design and testability issues (16 risultati)
Advanced VLSI Design and Testability Issues
Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra
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Tripathi, Suman Lata (EDT); Saxena, Sobhit (EDT); Mohapatra, Sushanta Kumar (EDT)
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Tripathi, Suman Lata (Editor)/ Saxena, Sobhit (Editor)/ Mohapatra, Sushanta Kumar (Editor)
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Gebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Suman Lata Tripathi is associated with Lovely Professional University, Phagwara, Punjab, as Professor with more than seventeen years of experience in academics. Her area of expertise includes microelectronics device modeling and characterization, low pow.…
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Buch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.…
