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9780367492823 - Advanced VLSI Design and Testability Issues (17 risultati)
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Valutazione venditore
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 142,39
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,77
Spedizione EUR 17,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 129,72
Spedizione EUR 17,39
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 146,71
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 151,90
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 143,02
Spedizione EUR 17,39
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 143,74
Spedizione EUR 18,66
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 163,81
Spedizione EUR 13,89
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 170,13
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 176,69
Spedizione EUR 28,98
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 213,47
Spedizione EUR 14,49
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 173,00
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,63
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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EUR 119,01
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Suman Lata Tripathi is associated with Lovely Professional University, Phagwara, Punjab, as Professor with more than seventeen years of experience in academics. Her area of expertise includes microelectronics device modeling and characterization, low pow.
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EUR 169,10
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Advanced VLSI Design and Testability Issues | Suman Lata Tripathi (u. a.) | Buch | Englisch | 2020 | CRC Press | EAN 9780367492823 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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EUR 202,11
Spedizione EUR 63,67
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.
