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9780387258003 - Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to Tem, Sem, and Aem di Egerton, R. F. (9 risultati)
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Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,78
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 180,17
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-
Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 180,88
Spedizione EUR 2,31
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,76
Spedizione EUR 17,41
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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-
Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction To TEM, SEM, And AEM
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 181,82
Spedizione EUR 17,41
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Physical Principles of Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2005
ISBN 10: 0387258000 ISBN 13: 9780387258003
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 205,92
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011.
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EUR 180,46
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Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Introduces the theory and current practice of electron microscopyIdeal for undergraduates and technologists with limited mathematical trainingCovers principles and techniques essential to materials science, the semiconductor industry, nanot.
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Physical Principles of Electron Microscopy
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2005
ISBN 10: 0387258000 ISBN 13: 9780387258003
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 194,14
Spedizione EUR 75,44
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. 1st ed. 2005. Corr. 2nd printing 2011.
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Physical Principles of Electron Microscopy : An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin, Springer US, Springer, 2005
ISBN 10: 0387258000 ISBN 13: 9780387258003
EUR 222,67
Spedizione EUR 62,42
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - Scanning and stationary-beam electron microscopes have become an indespensible tool for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book provides an introduction to the theory and current practice of electron microscopy, aimed primarily at undergraduates who need to learn how the basic principles of physics are applied in an important area of science and technology that has contributed greatly to our knowledge of life processes and 'inner space.' However, it will be equally valuable for technologists who make use of electron microscopes and for graduate students, university teachers and researchers who need a concise text that deals with the basic principles of microscopy. Less technical but broader in scope than other microscopy textbooks, Physical Principles of Electron Microscopy is appropriate for undergraduates and technologists with limited mathematical training.
