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9780387400907 - Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents di Foster, Adam; Hofer, Werner A. (9 risultati)
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SCANNING PROBE MICROSCOPY: ATOMIC SCALE ENGINEERING BY FORCES AND CURRENTS
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
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Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Scanning Probe Microscopy, Atomic Scale Engineering By Forces And Currents
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
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Scanning Probe Microscopy, Atomic Scale Engineering By Forces And Currents
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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EUR 108,61
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Scanning Probe Microscopy
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Used. pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
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EUR 143,65
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Scanning Probe Microscopy
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 233,22
Spedizione EUR 29,33
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Edizione InternazionaleSCANNING PROBE MICROSCOPY (HB 2006)
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 269,25
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