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9780387400938 - Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation: 36 di Reimer, Ludwig; Kohl, Helmut (11 risultati)
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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (Springer Series in Optical Sciences, 36, Band 36)
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesEUR 10,10
Spedizione EUR 62,30
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Befriedigend. 606 Seiten; 9780387400938.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (Springer Series in Optical Sciences, 36)
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
hardcover. Condizione: Fine.
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Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation (Springer Series in Optical Sciences, 36)
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 190,42
Spedizione EUR 13,99
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 207,21
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 190,41
Spedizione EUR 17,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 214,45
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 213,01
Spedizione EUR 17,52
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2008
ISBN 10: 0387400931 ISBN 13: 9780387400938
Da: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 241,85
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Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. Fifth Edition 2008. Transmission Electron Microscopy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also discussed are the kinematical and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure analysis and imaging of lattices and their defects. X-ray micronanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. Specimen damage and contamination by electron irradiation limits the resolution for biological and some inorganic specimens. This fifth edition includes discussion of recent progress, especially in the area of aberration corrector, and energy filtering; moreover the new topics of the forth edition have been updated again. USP: -Standard reference book -Now updated by the successor of the original author -New topics of the field included -Gives a comprehensive review of recent progresses in TEM.
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesLingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc., US, 2008
ISBN 10: 0387400931 ISBN 13: 9780387400938
Da: Rarewaves.com UK, London, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 227,82
Spedizione EUR 75,90
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. Fifth Edition 2008. Transmission Electron Microscopy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also discussed are the kinematical and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure analysis and imaging of lattices and their defects. X-ray micronanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. Specimen damage and contamination by electron irradiation limits the resolution for biological and some inorganic specimens. This fifth edition includes discussion of recent progress, especially in the area of aberration corrector, and energy filtering; moreover the new topics of the forth edition have been updated again. USP: -Standard reference book -Now updated by the successor of the original author -New topics of the field included -Gives a comprehensive review of recent progresses in TEM.
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 608 5th Edition.
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Transmission Electron Microscopy
Libro 41 di 235: Springer Series in Optical SciencesDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 346,13
Spedizione EUR 7,59
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 608 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
