9780471181729 - spectroscopic ellipsometry and reflectometry: a user's guide di tompkins, harland g.; mcgahan, william a. (22 risultati)
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Condizione: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometr…y. Num Pages: 248 pages, Illustrations. BIC Classification: PHJ; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 163 x 237 x 19. Weight in Grams: 516. . 1999. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Condizione: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic.
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Condizione: New. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometr…y. Num Pages: 248 pages, Illustrations. BIC Classification: PHJ; TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 163 x 237 x 19. Weight in Grams: 516. . 1999. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Hardcover. Condizione: new. Hardcover. Ellipsometry is an optical technique used to measure thickness and optical properties of thin films. Single wave ellipsometry has been around for years, but now spectroscopic ellipsometry has entered the mainstream of industrial laboratories. This is a practical introduction to spectroscopi…c ellipsometry and the related technique of reflectometry. In addition to an introduction to the fundamentals, the book includes applications and case studies. While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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