9780471624639 - built-in test for vsli: pseudorandom techniques di bardell, paul h.; mcanney, william h.; savir, jacob (21 risultati)
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Condizione: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGM…T; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Condizione: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGM…T; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Hardcover. Condizione: new. Hardcover. This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines,… has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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