Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9780471624639 - Built-In Test for Vsli: Pseudorandom Techniques di Bardell, Paul H.; McAnney, William H.; Savir, Jacob (20 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (20)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (15)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (2)
- Molto buono o Buono (3)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (20)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (2)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (8)
- Non Print on Demand (18)
Lingua (1)
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Da: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
-
hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
-
Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques.
Da: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 5,45
Spedizione EUR 15,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellogebundene Ausgabe. Condizione: Gut. 354 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 650.
-
Hardcover. Condizione: new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
-
Built In Test for VLSI
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 222,29
Spedizione EUR 5,80
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 233,24
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 3 su 5 stelle
EUR 221,56
Spedizione EUR 6,80
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new.
-
Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 220,58
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 237,91
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 243,20
Spedizione EUR 17,32
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 265,39
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Built In Test for VLSI
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 295,18
Spedizione EUR 7,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 368.
-
Built In Test for VLSI
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 368.
-
EUR 260,31
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and stud.
-
Built-in Test for Very Large Scale Integration
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 301,19
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGMT; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . .
-
Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Builtin Pseud Test of Digit Cir)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 342,85
Spedizione EUR 14,44
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 368 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
-
Built-in Test for Very Large Scale Integration
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 378,49
Spedizione EUR 9,04
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGMT; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
EUR 362,30
Spedizione EUR 63,62
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing.
-
Built In Test for VLSI (Hardcover)
Lingua: Inglese
Editore: John Wiley & Sons Inc, New York, 1987
ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione Print on Demand
EUR 253,34
Spedizione EUR 42,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Hardcover. This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
-
Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Builtin Pseud Test of Digit Cir)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 320,97
Spedizione EUR 14,44
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 368 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
