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9780471731726 - Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies: 12 di Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe (22 risultati)
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Condizione: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 158,27
Spedizione EUR 7,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 163,76
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 161,58
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 173,89
Spedizione EUR 7,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 168,46
Spedizione EUR 8,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 167,07
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 228,03
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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EUR 195,70
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. ALVIN W. STRONG, PhD, is retired from IBM in Essex Junction, Vermont. He holds nineteen patents, has authored or coauthored a number of papers, and is a member of the IEEE and chair of the JEDEC 14.2 standards subcommittee.ERNEST Y. WU, PhD, is a Senior Tec.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 240,99
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 231,32
Spedizione EUR 29,40
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 266,15
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 267,27
Spedizione EUR 14,70
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
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Edizione InternazionaleRELIABILITY WEAROUT MECHANISMS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES (HB 2009)
Da: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 295,19
Spedizione gratuita
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 290,49
Spedizione EUR 9,18
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 274,25
Spedizione EUR 65,60
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanismsThis book covers everything students and professionals need to know about CMOS reliability wearout mechanisms, from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. It is the first book of its kind to bring together the pertinent physics, equations, and procedures for CMOS technology reliability in one place. Divided into six relatively independent topics, the book covers:\* Introduction to Reliability\* Gate Dielectric Reliability\* Negative Bias Temperature Instability\* Hot Carrier Injection\* Electromigration Reliability\* Stress VoidingChapters conclude with practical appendices that provide very basic experimental procedures for readers who are conducting reliability experiments for the first time. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies is ideal for students and new engineers who are looking to gain a working understanding of CMOS technology reliability. It is also suitable as a professional reference for experienced circuit design engineers, device design engineers, and process engineers.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 246,99
Spedizione EUR 14,70
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (Hardcover)
Lingua: Inglese
Editore: John Wiley & Sons Inc, Chicester, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione Print on Demand
EUR 233,73
Spedizione EUR 43,51
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Hardcover. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanismsfrom basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
