9780486450285 - a user's guide to ellipsometry di tompkins, harland g. (19 risultati)
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications 7/7/2006, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications Inc., New York, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Paperback. Condizione: new. Paperback. This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. Its 14 case studies illustrate concepts and reinforce applications of ellipsometry - particula…rly in relation to the semiconductor industry and to studies involving corrosion and oxide growth.A User's Guide to Ellipsometry will enable readers to move beyond limited turn-key applications of ellipsometers. In addition to its comprehensive discussions of the measurement of film thickness and optical constants in film, it also considers the trajectories of the ellipsometric parameters Del and Psi and how changes in materials affect parameters. This volume also addresses the use of polysilicon, a material commonly employed in the microelectronics industry, and the effects of substrate roughness. Three appendices provide helpful references. Text for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 1993 edition. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Editore: Dover Pubns, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications Inc. 2009-01-01, 2009
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editore: Dover Publications Inc., 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Condizione: New. Inhaltsverzeichnisrnrn1. Theoretical Aspectsn2. Instrumentationn3. Using Optical Parameters to Determine Material Propertiesn4. Determining Optical Parameters for Inaccessible Substrates and Unknown Filmsn5. Extremely Thin Filmsn6. The Spe.
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Editore: Dover Publications, 2006
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Editore: Dover Publications Jul 2006, 2006
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 14 case studies illustrate concepts and applications. Three appendices provide helpful refere…nces. 1993 edition.
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Editore: Dover Publications Inc., New York, 2006
Serie: Libro 37 di 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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