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9780521831994 - Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications (20 risultati)
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 125,21
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 127,83
Spedizione gratuita
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,55
Spedizione EUR 13,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,54
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 132,41
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, 196 b/w illus. BIC Classification: TBN; TGM; TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 180 x 252 x 29. Weight in Grams: 862. . 2007. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press CUP, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 167,25
Spedizione EUR 9,11
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, 196 b/w illus. BIC Classification: TBN; TGM; TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 180 x 252 x 29. Weight in Grams: 862. . 2007. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,88
Spedizione EUR 14,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 395 pages. 9.75x7.00x1.00 inches. In Stock.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 228,96
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
EUR 178,11
Spedizione EUR 64,40
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 219,43
Spedizione EUR 28,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 255,04
Spedizione EUR 2,29
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Focused Ion Beam Systems (Hardcover)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, Cambridge, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione Print on Demand
Hardcover. Condizione: new. Hardcover. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 125,79
Spedizione EUR 14,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 395 pages. 9.75x7.00x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 131,81
Spedizione EUR 23,77
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Focused Ion Beam Systems (Hardcover)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, Cambridge, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione Print on Demand
EUR 130,57
Spedizione EUR 42,84
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: new. Hardcover. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 169,95
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 408 69:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
EUR 130,42
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuab.
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 169,34
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
EUR 135,25
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications | Nan Yao | Buch | Gebunden | Englisch | 2013 | Cambridge University Press | EAN 9780521831994 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
