ISBN: 9780792336006 - physical and technical problems of soi structures and devices: proceedings of the nato advanced research workshop, gurzuf, ukraine, november 1-4, 1994: v. 4 (11 risultati)
Physical and Technical Problems of Soi Structures and Devices
Colinge, Jean-Pierre (EDT); Lysenko, V. S. (EDT); Nazarov, A. N. (EDT); NATO Advanced Research Workshop on Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices (1994 : Hurzuf, Ukraine) (COR)
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Physical and Technical Problems of Soi Structures and Devices
Colinge, Jean-Pierre (EDT); Lysenko, V. S. (EDT); Nazarov, A. N. (EDT); NATO Advanced Research Workshop on Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices (1994 : Hurzuf, Ukraine) (COR)
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Colinge, Jean-Pierre (EDT); Lysenko, V. S. (EDT); Nazarov, A. N. (EDT); NATO Advanced Research Workshop on Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices (1994 : Hurzuf, Ukraine) (COR)
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Colinge, Jean-Pierre (EDT); Lysenko, V. S. (EDT); Nazarov, A. N. (EDT); NATO Advanced Research Workshop on Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices (1994 : Hurzuf, Ukraine) (COR)
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Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices
Colinge, Jean-Pierre|Lysenko, Vladimir S.|Nazarov, Alexei N.
Lingua: Inglese
Editore: Springer Netherlands|Springer, Berlin, 1995
Serie: Libro 9 di 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
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Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Pub, 1995
Serie: Libro 9 di 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
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Editore: SPRINGER NATURE Jun 1995, 1995
Serie: Libro 9 di 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices, specialists in silicon-on-insulator technology from both East and West meet for the first time, giving the reader the chance to become acquainted with work from the former Soviet Union, hitherto only available in Russian and barely available to western scientists. Keynote lectures and state-of-the-art presentations give a wide-ranging panorama of the challenges posed by SOI materials and devices, material fabrication techniques, characterisation, device and circuit issues. 304 pp. Englisch.…
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Editore: Kluwer Academic Publishers, 1995
Serie: Libro 9 di 26 - Nato Science Partnership Subseries: 3
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