Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9780792386865 - Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard: 16 (15 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (15)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (10)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (3)
- Molto buono o Buono (2)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (15)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (3)
- Non Print on Demand (15)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
-
Analog And Mixed-signal Boundary-scan
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
Analog And Mixed-signal Boundary-scan
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 115,69
Spedizione EUR 32,26
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,39
Spedizione EUR 13,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 164,37
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Analog and Mixed-signal Boundary-Scan
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792386868 ISBN 13: 9780792386865
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 199,18
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to understand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . .
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 180,46
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 223,00
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (16))
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 213,47
Spedizione EUR 28,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 232,98
Spedizione EUR 11,58
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Analog and Mixed-signal Boundary-Scan
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingLingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1999
ISBN 10: 0792386868 ISBN 13: 9780792386865
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to understand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 35 di 40: Frontiers in Electronic TestingEUR 221,09
Spedizione EUR 62,13
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
