9780792386865 - analog and mixed-signal boundary-scan: a guide to the ieee 1149.4 test standard: 16 (17 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
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Da: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, U.S.A.Bay State Book Company
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
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Editore: Springer, 1999
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Editore: Springer, 1999
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Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
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Editore: Kluwer Academic, 1999
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Condizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Editore: Springer, 1999
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1999
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Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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Condizione: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to…understand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . .
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Editore: Springer US, 1999
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Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
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Gebunden. Condizione: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
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Editore: Kluwer Academic Pub, 1999
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Hardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Editore: Springer, 1999
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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EUR 17,56 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 1999
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Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
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EUR 224,32
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Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Editore: Springer, 1999
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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EUR 258,80
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Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Kluwer Academic Publishers, 1999
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Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.Kennys Bookstore
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Condizione: New. The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Standard 1149.1, commonly known as JTAG. This title presents a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It is suitable for researchers and professionals who need to…understand IEEE Standard 1149.4. Editor(s): Osseiran, Adam. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 174 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 426. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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