Isbn: 9780852743980 - yield modelling and defect tolerance in vlsi, papers presented at the int workshop on designing for yield, 1-3 july 1987, oxford (1 risultati)
- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 309,99
EUR 29,28 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
