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9781032375106 - Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions di Kumar, Ch Sateesh; Singh, M. Muralidhar; Krishna, Ram (17 risultati)
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Advanced Materials Characterization : Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Advanced Materials Characterization
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Advanced Materials Characterization : Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 137,77
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Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions (Advanced Materials Processing and Manufacturing)
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions (Advanced Materials Processing and Manufacturing)
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 153,68
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Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Advanced Materials Characterization : Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,49
Spedizione EUR 17,38
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Advanced Materials Characterization : Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 155,39
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced Materials Characterization (Advanced Materials Processing and Manufacturing)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 173,30
Spedizione EUR 13,88
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Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions (Advanced Materials Processing and Manufacturing)
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 179,16
Spedizione EUR 9,95
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Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 229,40
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 160 pages. 9.19x6.13x0.52 inches. In Stock.
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Advanced Materials Characterization
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
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Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Ch Sateesh Kumar completed his PhD from National Institute of Technology, Rourkela. He worked as Visiting Assistant Professor in Thapar Institute of Engineering and Technology. Later he joined Advanced Materials Group at Czech Technical .
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Advanced Materials Characterization
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 179,93
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Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Advanced Materials Characterization | Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions | Ch Sateesh Kumar (u. a.) | Buch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2023 | CRC Press | EAN 9781032375106 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
