Isbn: 9781288368518 - characterization of stress in gan-on-sapphire microelectromechanical systems structures using micro-raman spectroscopy (12 risultati)
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Paperback or Softback. Condizione: New. Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy. Book.
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