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9781441909374 - Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies di Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Prav... (13 risultati)
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,62
Spedizione EUR 13,88
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 130,99
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 115,61
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Advanced Test Methods for SRAMs
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 188.
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EUR 112,77
Spedizione EUR 62,16
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 173,03
Spedizione EUR 17,38
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 163,50
Spedizione EUR 28,97
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 195,85
Spedizione EUR 2,32
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Test Methods for SRAMs (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 86,24
Spedizione EUR 8,00
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Advanced Test Methods for Srams: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book. 171 pp. Englisch.
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EUR 93,00
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. First book to present complete, state-of-the-art coverage of dynamic fault memory testingPresents content using a bottom-up approach, from the electrical causes of malfunction up to the generation of smart test strategiesIncludes case stu.
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Advanced Test Methods for SRAMs
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 154,06
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 188 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Advanced Test Methods for SRAMs
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 152,95
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 188.
