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9781785481529 - Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices: Methodology and Evaluation di Deshayes, Yannick; Bechou, Laurent (15 risultati)
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 76,94
Spedizione EUR 17,73
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 88,70
Spedizione EUR 7,44
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,67
Spedizione EUR 2,23
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 200.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2016
ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 96,83
Spedizione EUR 15,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 102,79
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 200.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,22
Spedizione EUR 13,71
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,10
Spedizione EUR 2,23
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,20
Spedizione EUR 17,17
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 121,25
Spedizione EUR 17,17
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 73,62
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices: Methodology and Evaluation
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 86,30
Spedizione EUR 11,44
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 200 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2016
ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,95
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed. Englisch.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2016
ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 128,81
Spedizione EUR 15,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices : Methodology and Evaluation
Lingua: Inglese
Editore: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2016
ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
EUR 88,44
Spedizione EUR 61,50
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed.
