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9781785481529 - Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices: Methodology and Evaluation di Deshayes, Yannick; Bechou, Laurent (15 risultati)
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 79,05
Spedizione EUR 18,21
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 91,89
Spedizione EUR 7,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 103,97
Spedizione EUR 2,31
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 200.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2016
ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 99,73
Spedizione EUR 16,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 103,96
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 3 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 200.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 122,56
Spedizione EUR 2,31
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 108,21
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 111,76
Spedizione EUR 14,09
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices : Methodology and Evaluation
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 124,65
Spedizione EUR 17,64
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 73,62
Spedizione EUR 5,50
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of Led Devices: Methodology and Evaluation
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 88,67
Spedizione EUR 11,76
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 200 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 78,95
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed. 172 pp. Englisch.
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Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation
Lingua: Inglese
Editore: ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2016
ISBN 10: 1785481525 ISBN 13: 9781785481529
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 132,49
Spedizione EUR 16,28
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 88,44
Spedizione EUR 62,13
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The rapid growth of the use of optoelectronic technology in Information and Communications Technology (ICT) has seen a complementary increase in the performance of such technologies. As a result, optoelectronic technologies have replaced the technology of electronic interconnections. However, the control of manufacturing techniques for optoelectronic systems is more delicate than that of microelectronic technologies.This practical resource, divided into four chapters, examines several methods for determining the reliability of infrared LED devices. The primary interest of this book focuses on methods of extracting fundamental parameters from the electrical and optical characterization of specific zones in components. Failure mechanisms are identified based on measured performance before and after aging tests. Knowledge of failure mechanisms allows formulation of degradation laws, which in turn allow an accurate lifetime distribution for specific devices to be proposed.
