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9783319840413 - Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS di Posser, Gracieli; Sapatnekar, Sachin S.; Reis, Ricard... (16 risultati)
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Books From California, Simi Valley, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
paperback. Condizione: Very Good.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 52,36
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos (Paperback or Softback)
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback or Softback. Condizione: New. Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos. Book.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 60,36
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,85
Spedizione EUR 13,74
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 55,96
Spedizione EUR 17,76
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 10 disponibili
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 57,84
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 64,91
Spedizione EUR 17,20
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Electromigration Inside Logic Cells : Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2018
ISBN 10: 331984041X ISBN 13: 9783319840413
EUR 57,68
Spedizione EUR 61,13
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.
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EUR 50,35
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Electromigration Inside Logic Cells | Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS | Gracieli Posser (u. a.) | Taschenbuch | xx | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319840413 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 107,47
Spedizione EUR 28,67
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Electromigration Inside Logic Cells (eng)
Da: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 46,22
Spedizione EUR 5,50
Spedito da Italia a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: new. Questo è un articolo print on demand.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 69,64
Spedizione EUR 7,45
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand.
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Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 66,88
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND.
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Electromigration Inside Logic Cells
Lingua: Inglese
Editore: Berlin Springer International Publishing Springer Jul 2018, 2018
ISBN 10: 331984041X ISBN 13: 9783319840413
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 53,49
Spedizione EUR 23,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics. 118 pp. Englisch.
