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9783540115151 - Experimental Aspects (Vol 2) (2 risultati)
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-
Experimental aspects. Springer series in solid-state sciences; 35.
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 47,32
Spedizione EUR 40,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. XVI, 295 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05849 3540115153 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
-
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects: Volume 2 ( # 35 Springer Series in Solid-State Sciences)
Da: The Spoken Word, Oxfordshire, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 47,70
Spedizione EUR 72,94
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Very Good. No Jacket. 1st Edition. Published by Springer-verlag Berlin in 1983, here is the first hardback printing of J.Bourgoin and M.Lannoo's Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects (Stringer Series in Solid-State Sciences #35). Paper covered brown boards, white/orange spine and front cover lettering, 295 illustrated pages the book is in very good condition with the sticker of a previous owner, eminent Physicist Dr A.M.Stoneham applied to the top of the front free end paper and some very light rubbing to the edges of the boards.
