9783540129967 - mikroprozessorsysteme: zuverlässigkeit, testverfahren, fehlertoleranz di hedtke, rolf (15 risultati)
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4°. 203 S. : 110 Abb. kart. Einband mit Knickfalte am rechten oberen Eck, ansonsten aber gutes Ex. Unfortunately, deliveries to the USA are not possible at this time.
Lingua: Tedesco
Editore: Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo : Springer, 1984
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Broschiert. Condizione: Sehr gut. 203 S. : graph. Darst. 25 cm. Einband leicht berieben. Stempel auf Titelei, ansonsten sehr gut erhalten. ISBN: 9783540129967 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 440.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur… bei Ge raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement 'Mikroprozessor' abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei terarbeitet. So bemerkt z. B.
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Condizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Deutsch | Produktart: Bücher | Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur…bei Ge raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement "Mikroprozessor" abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei terarbeitet. So bemerkt z. B.
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist…dabei n icht nur bei Ge raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement 'Mikroprozessor' abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei terarbeitet. So bemerkt z. B. 216 pp. Deutsch.
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Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. 1. Einleitung.- 2. Fehler in Mikrocomputerkomponenten.- 2.1 Fehlerursachen bei hochintegrierten MOS-Schltkreisen.- 2.2 Fehlerursachen bei bipolaren Schaltkreisen.- 2.3 Klassifizierung der Fehlerarten.- 2.4 Funktionss…pezifische Ausfallursachen.- 3. Qualitaets.
Lingua: Tedesco
Editore: Springer Gabler, Springer Berlin Heidelberg Dez 1983, 1983
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Taschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabe…i n icht nur bei Ge raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement 'Mikroprozessor' abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei terarbeitet. So bemerkt z. B.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 216 pp. Deutsch.
