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9783540225706 - Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, Sspr 2004 and Spr 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceed... (12 risultati)
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Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 1168 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2004 and SPR 2004, Lisbon, Portugal, August ... (Lecture Notes in Computer Science, 3138)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 176,59
Spedizione EUR 13,87
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 176,58
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 191,98
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 1196.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition 2004
Lingua: Inglese
Editore: Springer Berlin Heidelberg, 2004
ISBN 10: 3540225706 ISBN 13: 9783540225706
EUR 181,66
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Invited Talks.- Finding Clusters and Components by Unsupervised Learning.- Kernel Methods for Exploratory Pattern Analysis: A Demonstration on Text Data.- The Use of Graph Techniques for Identifying Objects and Scenes in Indoor Building Environments for Mob.
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition: Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Verlag New York Inc, 2004
ISBN 10: 3540225706 ISBN 13: 9783540225706
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 246,85
Spedizione EUR 23,16
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 1168 pages. German language. 9.50x6.25x1.50 inches. In Stock.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, SSPR 2004 : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2004 and SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Berlin, Springer, 2004
ISBN 10: 3540225706 ISBN 13: 9783540225706
EUR 226,06
Spedizione EUR 68,49
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Neuware - This volume contains all papers presented at SSPR 2004 and SPR 2004, hosted by the Instituto de Telecomunicac oes/Instituto Superior T ecnico, Lisbon, Portugal, August 18 20, 2004. This was the fourth time that the two workshops were held back-to-back. The SSPR was the tenth International Workshop on Structural and Synt- tic Pattern Recognition, and the SPR was the fth International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition. These workshops have traditi- ally been held in conjunction with ICPR (International Conference on Pattern Recognition), and are the major events for technical committees TC2 and TC1, respectively, of the International Association for Pattern Recognition (IAPR). The workshops were closely coordinated, being held in parallel, with plenary talks and a common session on hybrid systems. This was an attempt to resolve thedilemmaofhowto dealwiththeneedfornarrow-focusspecializedworkshops yet accommodate the presentation of new theories and techniques that blur the distinction between the statistical and the structural approaches. A total of 219 papers were received from many countries, with the subm- sion and reviewing processes being carried out separately for each workshop. A total of 59 papers were accepted for oral presentation and 64 for posters. In - dition, four invited speakers presented informative talks and overviews of their research. They were: Alberto Sanfeliu, from the Technical University of Cata- nia, Spain; Marco Gori, from the University of Siena, Italy; Nello Cristianini, from the University of California, USA; and Erkki Oja, from Helsinki University of Technology, Finland, winner of the 2004 Pierre Devijver Award.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 218,74
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 1196.
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 232,70
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 1196 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
