Ridder dick de edt (10 risultati)
Pattern Recognition in Bioinformatics : 6th IAPR International Conference, PRIB 2011 Delft, the Netherlands, November 2-4, 2011 Proceedings
Loog, Marco (EDT); Wessels, Lodewyk (EDT); Reinders, Marcel J. t. (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Pattern Recognition in Bioinformatics : 6th IAPR International Conference, PRIB 2011 Delft, the Netherlands, November 2-4, 2011 Proceedings
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, Sspr 2006 And Spr 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Yeung, Dit-Yan (EDT); Kwok, James T. (EDT); Fred, Ana (EDT); Roli, Fabio (EDT); De Ridder, Dick (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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