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9784431703365 - Analytical Electron Microscopy for Materials Science di Shindo, D.; Oikawa, T. (14 risultati)
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science (Paperback or Softback)
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: Chiron Media, Wallingford, Regno Unito
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: Corner of a Foreign Field, Tokyo, TOKYO, Giappone
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation. 168 pp. Englisch.
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Aggiungi al carrelloKartoniert / Broschiert. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Detailed explanation of the basic principles and the latest improvements in analytical electron microscopyGenerous illustrations and experimental dataAnalytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the .
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Analytical Electron Microscopy for Materials Science
Lingua: Inglese
Editore: Springer, Springer Sep 2002, 2002
ISBN 10: 4431703365 ISBN 13: 9784431703365
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 168 pp. Englisch.
