9789811010729 - high-level estimation and exploration of reliability for multi-processor system-on-chip di wang, zheng; chattopadhyay, anupam (12 risultati)
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Serie: Libro 2 di 13 - Computer Architecture and Design Methodologies
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Buch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques…for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents n…ovel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures. 220 pp. Englisch.
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Buch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel… techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 220 pp. Englisch.
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