Importo totale (1 articolo articoli):
Destinazione ordine:
9789812836670 - Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers di Khursheed, Anjam (15 risultati)
Vai alla pagina principale dei risultati di ricerca
Filtri di ricerca
Tipo di articolo
- Tutti i tipi di prodotto
- Libri (15)
- Riviste e Giornali (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fumetti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Spartiti (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Arte, Stampe e Poster (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Fotografie (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Mappe (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Manoscritti e Collezionismo cartaceo (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Condizioni Maggiori informazioni
- Nuovo (9)
- Come nuovo, Ottimo o Quasi ottimo (3)
- Molto buono o Buono (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Discreto o Mediocre (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Come descritto (3)
Legatura
- Tutte
- Rilegato (15)
- Brossura (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
Ulteriori caratteristiche
- Prima ed. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Copia autograf. (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Sovracoperta (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Con foto (7)
- Non Print on Demand (12)
Lingua (1)
Prezzo
- Qualsiasi prezzo
- Inferiore a EUR 20 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- EUR 20 a EUR 45 (Nessun altro risultato corrispondente a questo perfezionamento)
- Superiore a EUR 45
Spedizione gratuita
Paese del venditore
Valutazione venditore
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: Used. pp. 416.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 120,88
Spedizione EUR 7,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Used. pp. 416.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, Incorporated, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 122,54
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Used. pp. 416.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,80
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
Scanning Electron Microscope Optics And Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2010
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Scanning Electron Microscope Optics And Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2010
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 159,65
Spedizione EUR 5,79
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloHRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,46
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
-
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OPTICS AND SPECTROMETERS
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 162,62
Spedizione EUR 13,83
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 174,74
Spedizione EUR 17,31
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2010
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 166,43
Spedizione EUR 28,85
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2011
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 197,56
Spedizione EUR 2,27
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Pub Co Inc, 2009
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 209,63
Spedizione EUR 14,43
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. illustrated edition. 400 pages. 9.06x6.14x1.10 inches. In Stock.
-
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Lingua: Inglese
Editore: World Scientific Publishing Company, 2010
ISBN 10: 9812836675 ISBN 13: 9789812836670
EUR 138,31
Spedizione EUR 48,99
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is compatible with other charged particle beam instrumentation and analytical techniques commonly used in surface science research. This book emphasizes the concepts underlying spec.
-
EUR 143,40
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OPTICS . | Khursheed Anjam | Buch | Gebunden | Englisch | 2010 | World Scientific | EAN 9789812836670 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
-
EUR 171,39
Spedizione EUR 63,77
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is more compatible with other charged particle beam instrumentation and analytical techniques commonly used in surface science research. It emphasizes the concepts underlying spectrometer designs in the scanning electron microscope, and spectrometers are discussed under one common framework so that their relative strengths and weaknesses can be more readily appreciated. This is done, for the most part, through simulations and derivations carried out by the author himself.The book is aimed at scientists, engineers and graduate students whose research area or study in some way involves the scanning electron microscope and/or charged particle spectrometers. It can be used both as an introduction to these subjects and as a guide to more advanced topics about scanning electron microscope redesign.
