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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 26,76
Convertire valutaEUR 5,45 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 0.85.
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EUR 25,80
Convertire valutaEUR 92,23 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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EUR 131,25
Convertire valutaGratis per la spedizione da Australia a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBrand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address.
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EUR 115,07
Convertire valutaEUR 36,92 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9780792386865.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 159,09
Convertire valutaEUR 10,35 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Analog and Mixed-signal Boundary-scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,09
Convertire valutaEUR 17,07 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 154,09
Convertire valutaEUR 17,07 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 165,14
Convertire valutaEUR 10,35 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 165,13
Convertire valutaEUR 17,27 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 177,69
Convertire valutaEUR 7,69 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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EUR 165,03
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
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EUR 173,55
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 178,98
Convertire valutaEUR 17,07 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-signal Boundary-scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 183,88
Convertire valutaEUR 17,07 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 194,60
Convertire valutaEUR 2,00 per la spedizione da Irlanda a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. 2010. Paperback. . . . . .
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan : A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 189,71
Convertire valutaEUR 17,27 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 156,69
Convertire valutaEUR 64,05 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 16)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 157,03
Convertire valutaEUR 64,05 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 229,15
Convertire valutaEUR 11,52 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 176 pages. 9.21x6.14x0.40 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (16))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 212,32
Convertire valutaEUR 28,79 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 231,11
Convertire valutaEUR 11,52 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 243,64
Convertire valutaEUR 1,88 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. 2010. Paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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EUR 241,87
Convertire valutaEUR 14,99 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.
