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data mining diagnosing fails di huisman leendert (36 risultati)
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 37,10
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 37,10
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Da: SecondSale, Montgomery, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 37,11
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. Item in good condition. Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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EUR 38,75
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EUR 44,64
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Data Mining and Diagnosing IC Fails.
Editore: New York/ NY, Springer US., 2005
ISBN 10: 0387249931 ISBN 13: 9780387249933
Lingua: Inglese
Da: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ ILAB VDA
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 16,00
Convertire valutaEUR 30,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrello2005. 16 x 24 cm. XX, 250 S. XX, 250 p. 46 illus. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. (Frontiers in Electronic Testing). Sprache: Englisch.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 69,24
Convertire valutaGratis per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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EUR 82,05
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,44
Convertire valutaEUR 2,22 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 100,44
Convertire valutaEUR 2,22 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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EUR 94,95
Convertire valutaEUR 7,56 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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EUR 94,95
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,02
Convertire valutaEUR 3,36 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,02
Convertire valutaEUR 3,36 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,47
Convertire valutaEUR 2,22 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,06
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 123,71
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Data Mining And Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,19
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 141,25
Convertire valutaEUR 3,36 per la spedizione in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 272.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,19
Convertire valutaEUR 13,78 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 140,27
Convertire valutaEUR 13,78 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Editore: Springer US, Springer New York Jun 2005, 2005
ISBN 10: 0387249931 ISBN 13: 9780387249933
Lingua: Inglese
Da: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 60,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 272 pp. Englisch.
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EUR 111,35
Convertire valutaEUR 61,93 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Editore: Springer US, Springer New York, 2005
ISBN 10: 0387249931 ISBN 13: 9780387249933
Lingua: Inglese
EUR 114,36
Convertire valutaEUR 62,88 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,79
Convertire valutaEUR 28,75 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Brand New. 1st edition. 270 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 171,75
Convertire valutaEUR 17,25 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails (Frontiers in Electronic Testing, 31)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 162,29
Convertire valutaEUR 28,75 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Data Mining and Diagnosing Ic Fails
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 193,74
Convertire valutaEUR 2,22 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 23,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book grew out of an attempt to describe a variety of tools that were developed over a period of years in IBM to analyze Integrated Circuit fail data. The selection presented in this book focuses on those tools that have a significant statistical or datamining component. The danger of describing sta tistical analysis methods is the amount of non-trivial mathematics that is involved and that tends to obscure the usually straigthforward analysis ideas. This book is, therefore, divided into two roughly equal parts. The first part contains the description of the various analysis techniques and focuses on ideas and experimental results. The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part. Those who are interested only in using the analysis techniques themselves can skip the second part, but that part is important, if only to understand what is being done. 250 pp. Englisch.
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Data Mining and Diagnosing IC Fails
Da: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 106,99
Convertire valutaEUR 23,00 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment. 272 pp. Englisch.
