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hierarchical modeling vlsi circuit testing di bhattacharya debashis hayes john (14 risultati)
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 42,10
Convertire valutaEUR 18,00 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. 1990. 160 Seiten Ehem. Bibliotheksexemplar mit üblichen Merkmalen wie Signatur und Stempel. Moderate Lager- und Gebrauchsspuren. Text bis auf selten mögliche Anstreichungen sauber. Insgesamt guter Zustand. Sprache: englisch. Ex library book with stamps and signature. Slight signs of use. Good condition. Language: english. 9780792390589 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 939.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Germania
Membro dell'associazione: GIAQ
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 20,00
Convertire valutaEUR 16,90 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloKluwer, Boston, 1990. X, 159 pages with some graphics, hard cover---Verlag: Kluwer Verlag: Kluwer -former library book in good condition- 460 Gramm.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 6,59
Convertire valutaEUR 81,18 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: very_good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in very good condition! The cover and any other included accessories are also in very good condition showing some minor use. The spine is straight, there are no rips tears or creases on the cover or the pages.
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EUR 79,07
Convertire valutaEUR 26,46 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,07
Convertire valutaEUR 10,65 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 119,07
Convertire valutaEUR 10,65 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. In.
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EUR 118,64
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 155,85
Convertire valutaEUR 7,94 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 176.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,49
Convertire valutaEUR 66,18 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 89)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,83
Convertire valutaEUR 66,18 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing (The Springer International Series in Engineering and Computer Science (89))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 167,11
Convertire valutaEUR 29,61 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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EUR 93,00
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level circuit and fault models that predate integrated .
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 162,93
Convertire valutaEUR 10,48 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 176 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 166,40
Convertire valutaEUR 7,95 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 176.
