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identification defects semiconductors (8 risultati)
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Microscopic Identification of Electronic Defects in Semiconductors (Materials Research Society Symposia Proceedings, Volume 46)
Lingua: Inglese
Editore: Materials Research Society, 1985
ISBN 10: 0931837111 ISBN 13: 9780931837111
Da: BookDepart, Shepherdstown, WV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: UsedGood. Hardcover; symposium held April 15-18, 1985, in San Francisco; fading and shelf wear to exterior; binding slightly cocked; scrape to side edge of front cover; note written on table of contents page, otherwise text is clean; former owner's stamping inside rear board; contents in good condition.
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Semiconductors and Semimetals - Identification of Defects in Semiconductors
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Semiconductors and Semimetals - Identification of Defects in Semiconductors
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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EUR 111,69
Spedizione EUR 105,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 434 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 224,61
Spedizione EUR 29,00
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Identification of Defects in Semiconductors
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 321,84
Spedizione EUR 14,50
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 396 pages. 9.00x5.75x0.90 inches. In Stock.
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Hardcover. Condizione: New. No Jacket. 1st Edition. Academic Press (1998). New Hardcover, no dj. Naroon cloth Gilt Front and Spine titles. 9.25"x6.25"x1.1". be42744.
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Identification of Defects in Semiconductors (Volume 51B) (Semiconductors and Semimetals, Volume 51B)
Editore: Academic Press, 1998
ISBN 10: 0471191973 ISBN 13: 9780471191971
Hardcover. Condizione: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
