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power constrained testing vlsi circuits di nicolici nicola (19 risultati)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 34,04
Convertire valutaEUR 20,31 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Da: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 27,84
Convertire valutaEUR 32,16 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,97
Convertire valutaEUR 10,29 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,97
Convertire valutaEUR 10,29 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 110,96
Convertire valutaEUR 17,17 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 126,03
Convertire valutaEUR 16,92 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 141,10
Convertire valutaEUR 7,62 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. pp. 192.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 148,50
Convertire valutaEUR 11,45 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 180 pages. 9.25x6.10x0.44 inches. In Stock.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,18
Convertire valutaEUR 63,48 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Da: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 101,51
Convertire valutaEUR 63,48 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 170,94
Convertire valutaEUR 17,17 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (22B))
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 161,52
Convertire valutaEUR 28,62 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 193,40
Convertire valutaEUR 16,92 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
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EUR 92,27
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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EUR 92,27
Convertire valutaEUR 9,70 per la spedizione da Germania a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441953159 ISBN 13: 9781441953155
Lingua: Inglese
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 135,19
Convertire valutaEUR 8,15 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 329.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Editore: Springer-Verlag New York Inc., 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Lingua: Inglese
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 136,28
Convertire valutaEUR 14,48 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 1020.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 147,87
Convertire valutaEUR 10,13 per la spedizione da Regno Unito a ItaliaQuantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 192 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 152,79
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