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power constrained testing vlsi circuits di nicolici nicola (23 risultati)
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) Nicolici, Nicola and Al-Hashimi, Bashir M.
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Used: Good. 2003 hardcover no dj as issued xlibrary copy withdrawn stamp on edge of pages/ in book clean text 178 pages::: J-10.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: Good. 178 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 104,11
EUR 2,27 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 102,92
EUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 103,26
EUR 3,44 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,84
EUR 13,57 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing, 22B)
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,84
EUR 13,57 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 109,83
EUR 16,99 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 192.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingEditore: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 133,49
EUR 10,50 per la spedizione da Irlanda a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . .
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 150,93
EUR 11,33 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 180 pages. 9.25x6.10x0.44 inches. In Stock.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingEditore: Kluwer Academic Publishers, 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Lingua: Inglese
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Condizione: New. Focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. This text surveys existing techniques and presents several test automation techniques for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 189 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 297 x 210 x 12. Weight in Grams: 990. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 169,19
EUR 16,99 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing (22B))
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 159,87
EUR 28,32 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Like New. Like New. book.
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Power-constrained Testing of Vlsi Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 191,75
EUR 2,27 per la spedizione in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: As New. Unread book in perfect condition.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 192.
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EUR 92,27
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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EUR 92,27
EUR 48,99 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloGebunden. Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This text focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the VLSI design flow. It surveys existing techniques and presents several test automation techniques for redu.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 149,64
EUR 7,36 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 192 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingEditore: Springer-Verlag New York Inc., 2003
ISBN 10: 140207235X ISBN 13: 9781402072352
Lingua: Inglese
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 134,89
EUR 23,74 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloHardback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 1020.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 150,80
EUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 260,90
EUR 7,36 per la spedizione da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 192 Illus.
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
Libro 11 di 40: Frontiers in Electronic TestingDa: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 261,98
EUR 9,95 per la spedizione da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 192.
