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Principles of Semiconductor Network Testing (Test & Measurement)
Editore: Boston, MA: U.S.A.: Newnes / Butterworth Heinemann, 1995
ISBN 10: 0750694726 ISBN 13: 9780750694728
Lingua: Inglese
Da: The Warm Springs Book Company, Fremont, CA, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Prima edizione
EUR 22,22
Convertire valutaEUR 29,35 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Fine. No Jacket. 1st Edition. A fine copy in pictorial boards issued w/o a DJ. 1st edition with complete number line. Illustrated; Contents: Preface; Diode and transistor operation; Integrated circuit test basics; Digital logic test; Noise identification; Operational amplifier general information; Data acquisition devices; Digital signal processing; CODEC (Coder/Decoder); References. 8vo., 213 pages.
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EUR 21,37
Convertire valutaEUR 93,38 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Principles of Semiconductor Network Testing (Test & Measurement)
Da: BennettBooksLtd, San Diego, NV, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 91,14
Convertire valutaEUR 38,04 per la spedizione da U.S.A. a ItaliaQuantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
