Principles semiconductor testing test di afshar amir (3 risultati)
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Da: HPB-Red, Dallas, TX, U.S.A.HPB-Red
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Hardcover. Condizione: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Lingua: Inglese
Editore: Boston, MA: U.S.A.: Newnes / Butterworth Heinemann, 1995
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Da: The Warm Springs Book Company, Fremont, CA, U.S.A.The Warm Springs Book Company
Contatta il venditoreVenditore con 3 stelleCondizione: Usato - Ottimo
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Hardcover. Condizione: Fine. No Jacket. 1st Edition. A fine copy in pictorial boards issued w/o a DJ. 1st edition with complete number line. Illustrated; Contents: Preface; Diode and transistor operation; Integrated circuit test basics; Digital logic test; Noise identification; Operational amplifier general information; Data acquisition devices; Digital signal processing; CODEC (Coder/Decoder); References. 8vo., 213 pages.…
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Da: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, U.S.A.BennettBooksLtd
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hardcover. Condizione: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
