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Aggiungi al carrellohardcover. Condizione: Gut. 324 Seiten; 9783527314942.3 Gewicht in Gramm: 1.
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Reliability of MEMS: Testing of Materials and Devices (Advanced Micro and Nanosystems)
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 324,34
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Aggiungi al carrelloHardcover. Condizione: Like New. Like New. book.
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Reliability of Mems: Testing of Materials And Devices Volume 6
Editore: John Wiley & Sons, 2008
Lingua: Inglese
Da: Books in my Basket, New Delhi, India
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 358,31
Convertire valutaEUR 16,50 per la spedizione da India a ItaliaQuantità: 2 disponibili
Aggiungi al carrelloN.A. Condizione: New. ISBN:9783527314942.
