Scanning electron microscope optics di khursheed anjam (12 risultati)

- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 149,24
EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

- Rilegato
Da: PBShop.store US, Wood Dale, IL, U.S.A.PBShop.store US
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 151,60
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

- Rilegato
Da: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Regno UnitoPBShop.store UK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 161,75
EUR 5,87 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 15 disponibili
HRD. Condizione: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.

- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 156,14
EUR 17,54 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.

- Rilegato
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 166,03
EUR 14,01 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. In.

- Rilegato
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 178,23
EUR 17,54 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

- Rilegato
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno UnitoMispah books
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 168,61
EUR 29,23 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Hardcover. Condizione: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

- Rilegato
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 200,96
EUR 2,28 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.

- Rilegato
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 210,60
EUR 14,62 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Hardcover. Condizione: Brand New. illustrated edition. 400 pages. 9.06x6.14x1.10 inches. In Stock.

- Rilegato
- Print on Demand
Da: moluna, Greven, Germaniamoluna
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 138,31
EUR 48,99 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is compatible with other charged particle beam instrumentation and analytical techniques commonly used in surface science research. This boo…k emphasizes the concepts underlying spec.
Altre immagini- Rilegato
- Print on Demand
Da: preigu, Osnabrück, Germaniapreigu
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 143,40
EUR 70,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Buch. Condizione: Neu. SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OPTICS . | Khursheed Anjam | Buch | Gebunden | Englisch | 2010 | World Scientific | EAN 9789812836670 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.

- Rilegato
- Print on Demand
Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 171,39
EUR 63,77 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Buch. Condizione: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is more compatible with other charged particle beam instrumentation and analytical techniques commonly used in surface science research. It emphasizes the co…ncepts underlying spectrometer designs in the scanning electron microscope, and spectrometers are discussed under one common framework so that their relative strengths and weaknesses can be more readily appreciated. This is done, for the most part, through simulations and derivations carried out by the author himself.The book is aimed at scientists, engineers and graduate students whose research area or study in some way involves the scanning electron microscope and/or charged particle spectrometers. It can be used both as an introduction to these subjects and as a guide to more advanced topics about scanning electron microscope redesign.