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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.
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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.
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Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale, 2 Volume Set
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Scanning Probe Microscopy | Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale | Alexei Gruverman (u. a.) | Taschenbuch | 2 Taschenbücher | Englisch | 2016 | Springer New York | EAN 9781493950362 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.
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Scanning Probe Microscopy : Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Lingua: Inglese
Editore: Springer New York, Springer New York, 2006
ISBN 10: 0387286675 ISBN 13: 9780387286679
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Aggiungi al carrelloBuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.
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Scanning Probe Microscopy: Electrical And Electromechanical Phenomena At The Nanoscale, 2 Volumes Set
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2007
Da: Books in my Basket, New Delhi, India
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EUR 466,44
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