Statistical machine learning approaches (135 risultati)
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2015
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Editore: Chapman and Hall/CRC, 2015
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Lingua: Inglese
Editore: Cham, Springer., 2019
Serie: Springer Proceedings in Complexity, Libro 29 di 45. Libro 29 di 45 - Springer Proceedings in Complexity
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Interpretability for Industry 4.0 : Statistical and Machine Learning Approaches
Lepore, Antonio (EDT); Palumbo, Biagio (EDT); Poggi, Jean-michel (EDT)
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Editore: Springer, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: Majestic Books, Hounslow, Regno UnitoMajestic Books
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Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno UnitoRia Christie Collections
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Da: Chiron Media, Wallingford, Regno UnitoChiron Media
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PF. Condizione: New.
Interpretability for Industry 4.0 : Statistical and Machine Learning Approaches
Lepore, Antonio (EDT); Palumbo, Biagio (EDT); Poggi, Jean-michel (EDT)
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Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Editore: Springer, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. 2024th edition NO-PA16APR2015-KAP.
Lingua: Inglese
Editore: Taylor & Francis Ltd, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno UnitoTHE SAINT BOOKSTORE
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.Books Puddle
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Interpretability for Industry 4.0: Statistical and Machine Learning Approaches
Lepore, Antonio (Editor)/ Palumbo, Biagio (Editor)/ Poggi, Jean-michel (Editor)
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Lingua: Inglese
Editore: Springer-Nature New York Inc, 2024
Serie: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, Libro 326 di 472. Libro 326 di 472 - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 146 pages. 9.25x6.10x0.32 inches. In Stock.
Lingua: Inglese
Editore: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition, Libro 10 di 15. Libro 10 di 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Da: Biblios, frankfurt am main, HESSE, GermaniaBiblios
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Editore: Springer, 2004
Serie: The Information Retrieval, Libro 7 di 42. Libro 7 di 42 - The Information Retrieval
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Da: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, U.S.A.Romtrade Corp.
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2004
Serie: The Information Retrieval, Libro 7 di 42. Libro 7 di 42 - The Information Retrieval
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Da: Basi6 International, Irving, TX, U.S.A.Basi6 International
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2004
Serie: The Information Retrieval, Libro 7 di 42. Libro 7 di 42 - The Information Retrieval
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Da: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Regno UnitoPhatpocket Limited
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