Structural syntactic statistical pattern (144 risultati)
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
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Paperback or Softback. Condizione: New. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012. Book.
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Lingua: Inglese
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Structural, Syntactic and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2024, Venice, Italy, September 9?10, 2024, Revised Selected Papers
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Cosmo, Luca (EDT); Minello, Giorgia (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Structural, Syntactic and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2024, Venice, Italy, September 9?10, 2024, Revised Selected Papers
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Cosmo, Luca (EDT); Minello, Giorgia (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
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Editore: Springer, 2021
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
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Editore: Springer, 2018
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
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Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
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Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
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Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
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Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
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Condizione: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Nature New York Inc, 2021
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 390 pages. 9.25x6.10x0.94 inches. In Stock.
Structural, Syntactic and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2024, Venice, Italy, September 910, 2024, Revised Selected Papers
Torsello, Andrea (Editor)/ Rossi, Luca (Editor)/ Cosmo, Luca (Editor)/ Minello, Giorgia (Editor)
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 212 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 2014 edition. 500 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, August 1719, 2018, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Bai, Xiao (Editor) / Hancock, Edwin R. (Editor) / Ho, Tin Kam (Editor) / Wilson, Richard C. (Editor) / Biggio, Battista (Editor) / Robles-Kelly, Antonio (Editor)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
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Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
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Paperback. Condizione: Brand New. 540 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
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EUR 98,95
EUR 3,58 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 776.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
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Da: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, GermaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 35,00 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
Taschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2020, held in Padua, Italy, in January 2021.The 35 papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 81 submissions.The accepted papers cover the major topics of current interest in pattern recognition, including classification and clustering, deep learning, structural matching and graph-theoretic methods, and multimedia analysis and understanding.…
