Syntactic structural pattern recognition (162 risultati)
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 53,60
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 53,60
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 54,84
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Syntactic and Structural Pattern Recognition
Ferrate, Gabriel (EDT); Pavlidis, Theo (EDT); Sanfeliu, Alberto (EDT); Bunke, Horst (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 54,84
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 54,84
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Rilegato
Da: Wissenschaftl. Antiquariat Th. Haker e.K, Klettgau, GermaniaWissenschaftl. Antiquariat Th. Haker e.K
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 18,30
EUR 40,26 spedizioneSpedito da Germania a U.S.A.Quantità: 1 disponibile
hardcover. Condizione: Wie neu. 486 p. Like new. ISBN: 9783540192091 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1026.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 57,93
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
- Brossura
Da: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, U.S.A.BargainBookStores
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 61,00
Spedizione gratuitaSpedito in U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Paperback or Softback. Condizione: New. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012. Book.
- Brossura
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 62,58
EUR 2,68 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
- Brossura
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 62,58
EUR 2,68 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 63,06
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 63,06
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 64,46
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
- Brossura
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.California Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 66,26
EUR 2,68 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2024, Venice, Italy, September 9?10, 2024, Revised Selected Papers
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Cosmo, Luca (EDT); Minello, Giorgia (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 70,11
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 62,20
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 62,27
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2016, Mérida, Mexico, November 29 - December 2, 2016, Proceedings
Robles-kelly, Antonio (EDT); Loog, Marco (EDT); Biggio, Battista (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Wilson, Richard (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 62,37
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, Sspr & Spr 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings
Gimel'Farb, Georgy (EDT); Hancock, Edwin (EDT); Imiya, Atsushi (EDT); Kuijper, Arjan (EDT); Kudo, Mineichi (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 62,52
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2024, Venice, Italy, September 9?10, 2024, Revised Selected Papers
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Cosmo, Luca (EDT); Minello, Giorgia (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.GreatBookPrices
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 83,68
EUR 2,36 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 15 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 67,96
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: New.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2014, Joensuu, Finland, August 20-22, 2014, Proceedings
Fränti, Pasi (EDT); Brown, Gavin (EDT); Loog, Marco (EDT); Escolano, Francisco (EDT); Pelillo, Marcello (EDT)
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 69,00
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshop, S+sspr 2018, Beijing, China, August 17?19, 2018, Proceedings
Bai, Xiao (EDT); Hancock, Edwin R. (EDT); Ho, Tin Kam (EDT); Wilson, Richard C. (EDT); Biggio, Battista (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 69,01
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2020, Padua, Italy, January 21?22, 2021, Proceedings
Torsello, Andrea (EDT); Rossi, Luca (EDT); Pelillo, Marcello (EDT); Biggio, Battista (EDT); Robles-kelly, Antonio (EDT)
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
- Brossura
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno UnitoGreatBookPricesUK
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Usato - Come nuovo
EUR 69,01
EUR 17,97 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Condizione: As New. Unread book in perfect condition.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2021
- Brossura
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 90,48
EUR 3,57 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New.
Lingua: Inglese
Editore: Springer, 2018
- Brossura
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 92,77
EUR 3,57 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
- Brossura
Da: Books Puddle, Woodside, NY, U.S.A.Books Puddle
Contatta il venditoreVenditore con 4 stelleCondizione: Nuovo
EUR 92,77
EUR 3,57 spedizioneSpedito in U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Condizione: New. pp. 492.
Lingua: Inglese
Editore: Springer-Nature New York Inc, 2021
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 83,07
EUR 14,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Paperback. Condizione: Brand New. 390 pages. 9.25x6.10x0.94 inches. In Stock.
Structural, Syntactic and Statistical Pattern Recognition: Joint Iapr International Workshops, S+sspr 2024, Venice, Italy, September 910, 2024, Revised Selected Papers
Torsello, Andrea (Editor)/ Rossi, Luca (Editor)/ Cosmo, Luca (Editor)/ Minello, Giorgia (Editor)
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 87,09
EUR 11,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Paperback. Condizione: Brand New. 212 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
- Brossura
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno UnitoRevaluation Books
Contatta il venditoreVenditore con 5 stelleCondizione: Nuovo
EUR 84,79
EUR 14,98 spedizioneSpedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 2 disponibili
Paperback. Condizione: Brand New. 2014 edition. 500 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
