Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

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9780521158596: Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

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Book Description:

This edited volume comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

About the Author:

NAN YAO holds several positions at Princeton University, New Jersey. He is director of the Imaging and Analysis Center; Senior Research Scholar at the Institute for the Science and Technology of Materials; and a lecturer in Mechanical and Aerospace Engineering.

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Editore: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, United Kingdom (2011)
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Descrizione libro CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, United Kingdom, 2011. Paperback. Condizione libro: New. Reissue. Language: English . Brand New Book ***** Print on Demand *****.The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. Codice libro della libreria AAV9780521158596

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Editore: CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, United Kingdom (2011)
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Descrizione libro CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS, United Kingdom, 2011. Paperback. Condizione libro: New. Reissue. Language: English . Brand New Book ***** Print on Demand *****. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. Codice libro della libreria AAV9780521158596

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Yao, Nan
Editore: Cambridge University Press (2016)
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Descrizione libro Cambridge University Press, 2016. Paperback. Condizione libro: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. Codice libro della libreria ria9780521158596_lsuk

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ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Descrizione libro Cambridge University Press, 2011. PAP. Condizione libro: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 3 to 5 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Codice libro della libreria LQ-9780521158596

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EDITED BY NAN YAO
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Descrizione libro 2011. Paperback. Condizione libro: NEW. 9780521158596 This listing is a new book, a title currently in-print which we order directly and immediately from the publisher. Codice libro della libreria HTANDREE0449168

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Editore: Cambridge University Press (2011)
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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