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9780521158596 - Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications (19 risultati)
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 76,94
Spedizione EUR 2,29
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: California Books, Miami, FL, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 79,56
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Ria Christie Collections, Uxbridge, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,02
Spedizione EUR 13,87
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 74,01
Spedizione EUR 17,37
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 85,09
Spedizione EUR 10,50
Spedito da Irlanda a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 246 x 169 x 24. Weight in Grams: 668. . 2011. Reissue. paperback. . . . .
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press CUP, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Books Puddle, New York, NY, U.S.A.
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
Condizione: New. pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Kennys Bookstore, Olney, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 105,53
Spedizione EUR 9,11
Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 246 x 169 x 24. Weight in Grams: 668. . 2011. Reissue. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
EUR 91,92
Spedizione EUR 63,51
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Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 158,60
Spedizione EUR 17,37
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Mispah books, Redhill, SURRE, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 149,07
Spedizione EUR 28,95
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: GreatBookPrices, Columbia, MD, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 180,98
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Spedito in U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
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Focused Ion Beam Systems (Paperback)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, Cambridge, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, U.S.A.
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Paperback. Condizione: new. Paperback. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Da: Revaluation Books, Exeter, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 77,73
Spedizione EUR 14,47
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 1 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback. Condizione: Brand New. 1st edition. 407 pages. 9.75x6.75x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 81,94
Spedizione EUR 20,35
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: Più di 20 disponibili
Aggiungi al carrelloPaperback / softback. Condizione: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Majestic Books, Hounslow, Regno Unito
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 106,52
Spedizione EUR 7,53
Spedito da Regno Unito a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. Print on Demand pp. 408 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Germania
Valutazione del venditore 4 su 5 stelle
EUR 106,26
Spedizione EUR 9,95
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 4 disponibili
Aggiungi al carrelloCondizione: New. PRINT ON DEMAND pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems (Paperback)
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, Cambridge, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Da: CitiRetail, Stevenage, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
EUR 84,66
Spedizione EUR 42,84
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Focused Ion Beam Systems
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
EUR 81,25
Spedizione EUR 48,99
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Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications
Lingua: Inglese
Editore: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
EUR 87,85
Spedizione EUR 70,00
Spedito da Germania a U.S.A.Quantità: 5 disponibili
Aggiungi al carrelloTaschenbuch. Condizione: Neu. Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications | Nan Yao | Taschenbuch | Englisch | 2010 | Cambridge University Press | EAN 9780521158596 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
