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Foto dell'editore
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Editore:
North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Antico o usato
Rilegato
Da: MB Books, Derbyshire, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hardcover. Condizione: Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request. Codice articolo 943313
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Foto dell'editore
Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Editore:
North Holland, Amsterdam, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Antico o usato
Rilegato
Prima edizione
Da: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Regno Unito
Valutazione del venditore 5 su 5 stelle
Hard Cover. Condizione: Good. No Jacket. First edition. From an academic library with the usual stamps etc. Codice articolo PF3875
Compra usato
EUR 9,77
Spedizione EUR 35,58
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Quantità: 1 disponibili