Computed electron micrographs defect di head a k (4 risultati)
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
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Computed electron micrographs and defect identification.
Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.
Editore: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
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