Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)

Lingua: inglese

Editore: North-Holland Publishing Company, 1973

0720417570 / 9780720417579

Da: MB Books, Derbyshire, Regno UnitoMB Books

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Dati bibliografici

Titolo
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Autore
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
Editore
North-Holland Publishing Company
Anno di pubblicazione
1973
Condizione
Good
Sovraccoperta
No Jacket
Rilegatura
Hardcover
Lingua
inglese
ISBN 10
0720417570
ISBN 13
9780720417579

MB Books

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